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ELECTRONICSno. 18 (2023)
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Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETspp.125-127, (2021)
Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETspp.107-114, (2021)
Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETspp.81-105, (2021)
Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETspp.7-27, (2021)
Springer eBooks (2021)
Peng Gao,Andrew Keefe,Bart Dierickx, Steven Coenen, Jörg ter Haar, Alec J. McCalden,Laurent Artola,Walter Verbruggen, Koen Liekens, Yves Cantraine, Tim Morlion, Bert Van Thielen,
Sensors, Systems, and Next-Generation Satellites XXV (2021): 233-244
Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETspp.65-71, (2021)
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