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Modeling Aspects in Optical Metrology VIII (2021): 1178304
SCIENTIFIC REPORTSno. 1 (2019): 1735
Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XI (2019)
Sheng Liu,Aleksandr Vaskin,Sadhvikas Addamane,Benjamin Leung,Miao-Chan Tsai,Yuanmu Yang,Polina P Vabishchevich,Gordon A Keeler,George Wang,Xiaowei He,Younghee Kim,Nicolai F Hartmann,Han Htoon,Stephen K Doorn,Matthias Zilk,Thomas Pertsch,Ganesh Balakrishnan,Michael B Sinclair,Isabelle Staude,Igal Brener
G. K. Tadesse, W. Eschen,R. Klas, M. Tschernajew, F. Tuitje,V. Hilbert, D. Schelle, A. Nathanael,M. Zilk, M. Steinert,F. Schrempel,C. Spielmann,T. Pertsch, A. Tünnermann,J. Limpert,J. Rothhardt
semanticscholar(2018)
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