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Shahram Amini,Hongbin Choi, Wesley Seche, Alexander Blagojevic,Nicholas May,Benjamin M Lefler, Skyler L Davis,Sahar Elyahoodayan,Pouya Tavousi, Steven J May, Gregory A Caputo,Terry C Lowe,Jeffrey Hettinger, Sina Shahbazmohamadi
Microsystems & Nanoengineeringno. 1 (2024): 1-16
PLOS ONEno. 1 (2024): e0290761-e0290761
Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canadano. Supplement_1 (2023): 2014-2014
Scientific reportsno. 1 (2023): 12474-9
Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canadano. Supplement_1 (2023): 818-818
Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canadano. Supplement_1 (2023): 1897-1897
MICROELECTRONICS RELIABILITY (2023): 115220-115220
Microelectronics Reliability (2023): 115224-115224
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