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Dr. Touba's research interests are in VLSI testing and fault-tolerant computing. He has developed a number of innovative techniques for automated design of testable and fault-tolerant circuits. In particular, his research has focused on developing new techniques for test data compression, built-in self-test (BIST), delay fault testing, concurrent error detection, and design-for-testability (DFT) in core-based designs.
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2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)pp.1-4, (2023)
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