基本信息
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职业迁徙
个人简介
Pablo Saraza-Canflanca received the bachelor’s degree in physics from the Universidad de Sevilla, Seville, Spain, in 2014, the master’s degree from the Free University of Berlin, Berlin, Germany, in 2017, and the Ph.D. degree in microelectronics from the Instituto de Microelectrónica de Sevilla, Seville, in 2021, where he focused on time-dependent variability phenomena in CMOS technologies, such as random telegraph noise (RTN) or bias temperature instability (BTI).
He is currently a Researcher at Imec, Leuven, bbreak Belgium.
研究兴趣
论文共 37 篇作者统计合作学者相似作者
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合作机构
2024 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS 2024 (2024)
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERSno. 5 (2024): 750-753
2024 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS 2024 (2024)
2024 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS 2024 (2024)
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.1-9, (2023)
SMACDpp.1-4, (2023)
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.1-6, (2023)
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作者统计
#Papers: 37
#Citation: 112
H-Index: 7
G-Index: 9
Sociability: 4
Diversity: 2
Activity: 10
合作学者
合作机构
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