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Murtagh M.,Ye Shu-Ren, Masterson H. J., Beechinor J. T., Crean G. M.,Auret F. D., Deenapanray P. N. K.,Meyer W. E., Goodman S. A., Myburg G.
M. Murtagh,Shu-Ren Ye, H.J. Masterson, J.T. Beechinor,G.M. Crean,F.D. Auret, P.N.K. Deenapanray, W.E. Meyer,S.A. Goodman, G. Myburg
MRS Proceedings (1996)
DEFECTS IN ELECTRONIC MATERIALS IIno. 1 (1996): 51-62
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