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半导体辐射物理
电子器件辐射效应及损伤机理
电子元器件辐射环境中的可靠性及保证技术
半导体辐射物理
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Xiaowen Liang,Haonan Feng, Yutang Xiang,Jing Sun,Ying Wei,Dan Zhang,Yudong Li,Jie Feng,Xuefeng Yu,Qi Guo
ELECTRONICSno. 13 (2023): 2886-2886
IEEE Transactions on Nuclear Scienceno. 9 (2023): 2165-2174
引用1浏览0EIWOS引用
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0
IEEE Transactions on Nuclear Scienceno. 1 (2023): 37-43
Haonan Feng, Xuelei Liang,Xiaojuan Pu, Suling Yang,Jie Feng,Ying Wei, Yong‐Bing Xiang,Jing Sun,Dan Zhang,Yudong Li,Qingkui Yu,Xuefeng Yu,
IEEE Transactions on Nuclear Scienceno. 9 (2023): 2165-2174
引用0浏览0引用
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RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDSno. 9-10 (2023): 1201-1210
引用0浏览0引用
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RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS (2023)
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCEno. 9 (2023): 2165-2174
引用0浏览0引用
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Electronicsno. 20 (2023): 4349-4349
引用0浏览0引用
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Haonan Feng,Xiaowen Liang,Xiaojuan Pu, Yong‐Bing Xiang,Teng Zhang,Ying Wei,Jie Feng,Jing Sun,Dan Zhang,Yudong Li,Xuefeng Yu,Qi Guo
Electronicsno. 11 (2023): 2398-2398
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