<正>单粒子瞬态脉冲(SET)是单粒子效应的一种,是指单个离子入射到半导体器件的敏感区时产生的电流脉冲。SET会对电路产生扰动,且如果在短时间内SET产生的电荷量超过了器件的临界电荷,则可能会引起单粒子翻转(SEU)或者单粒子闩锁(SEL)等的发生,使电路的功能出错甚至崩溃。研究SET是对SEE深层的机理研究。通过对SET开展测试和机理研究,发现和掌握瞬态电流脉冲扰动产生的变化规律,为抗辐射加固提供可靠的依据。

<正>随着器件抗辐射加固性能的提高,在进行地面模拟试验时对所用重离子的能量及其在材料中的线性能量传输(LET)的要求也越来越高。为了提高串列加速器束流能量及其在材料中的LET,最

<正>单粒子瞬态(single-event transient,SET)电流脉冲测试技术是在重离子微束中非常重要的一种实验测试技术手段,可以用来测量束流入射位置与单粒子瞬态电流脉冲之间关系,给出电流瞬态

<正>基于HI-13串列加速器的重离子辐照专用装置已在串列二厅安装完毕并通过了真空测试等离线调试阶段。在串列加速器安改后即可进行在束性能测试,对装置指标进行检验。

<正>宇宙空间中的单个高能带电粒子与星载微电子器件相互作用产生的单粒子效应可使航天器发生在轨故障,效应严重时,甚至有可能对航天器造成灾难性的后果。因此,微电子器件在应用于航天器之前,必须进行基于加速器束流的地面模拟试验,结合预定轨道的辐射环境,对器件的单粒子效应特性进行评估,只有抗单粒子加固性能符合要求的器件才能使用。

<正>采用束流直径与集成电路芯片特征尺度相当的重离子微束进行地面模拟研究是深入研究单粒子效应微观机制的有效手段,可为改善航空微电子器件抗辐射性能提供重要信息。为在原有基础上获得更小尺度的重离子微束,新研制了由不锈钢刀口组装的矩形针孔,其线性尺度小于2μm×2μm。另外,为使重离子微束辐照装置更加完善,对辐照装置进行了改造,内容涉及激光精确定位系统的研制;长工作距离显微镜定位系统的改进;样品平台的改进等。因此,需要重新对装置的重复定位精度及其性能进行在束检验实验。