Экспериментально показаны возможности метода in situ мониторирования ионно-электронной эмиссии для выявления эффектов глубокого модифицирования поверхности высокоориентированного пиролитического графита при высоких флюенсах ионного облучения и определения порогового уровня радиационных нарушений, обуславливающих эти эффекты.