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Sub-Nanometer Line Edge Roughness in Helium-ion Lithography
Xing Cheng,Xin Zhuang,Yunsheng Deng, Yue Zhang, Kaimin Wang,Yulong Chen, Shiyang Gao,Jingfu Xu,Liqiu WANG
crossref（2024）
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Air-Stable Self-Driven UV Photodetectors on Controllable Lead-Free CsCu2I3 Microwire Arrays
Zhi-Hong Zhang, Shan-Shan Yan,Yu-Long Chen,Zhen-Dong Lian, Ai Fu,You-Chao Kong, Lin Li,Shi-Chen Su, Kar-Wei Ng,Zhi-Peng Wei,Hong-Chao Liu, Shuang-Peng Wang
ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACESno. 8 (2024): 10398-10406
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High-Index Epitaxial Fe Films Grown on MgO(113)
Wenzhi Peng,Yulong Chen, Xuhao Yu,Dazhi Hou
Materialsno. 12 (2023): 4352-4352
引用0浏览0WOS引用
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Single dual-mode gas sensor for early safety warning of Li-ion batteries: micro-scale Li dendrite and electrolyte leakage
Yan Wenjun, Jin Zhishen, Lin Zhengyang,Zhou Shiyu, Du Yonghai,Chen Yulong,Zhou Houpan
Chinese Physics Bno. 11 (2022): 110704-110704
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