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Process optimization and cryogenic evaluation of spin-orbit torque magnetic random access memory
Zhongkui Zhang, Xiaofei Fan, Danrong Xiong, Huiyan Sun, Xiantao Shang, Bowen Man, Cong Zhang, Shuhui Li, Renjie Su, Chengyuan Sun, Jennifer Zhou,Hongxi Liu,
2024 IEEE International Memory Workshop (IMW) (2024)
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Full reliability characterization of three-terminal SOT-MTJ devices and corresponding arrays
Xinyi Xu,Hongchao Zhang, Chuanpeng Jiang, Jinhao Li,Shiyang Lu, Yunpeng Li, Honglei Du,Xueying Zhang,Zhaohao Wang,Kaihua Cao,Weisheng Zhao, Shuqin Lyu,
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.1-6, (2023)
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Demonstration of a manufacturable SOT-MRAM multiplexer array towards industrial applications
Chuanpeng Jiang, Jinhao Li,Hongchao Zhang,Shiyang Lu, Pengbin Li,Chao Wang,Zhongkui Zhang,Zhengyi Hou,Xu Liu, Jiagao Feng,He Zhang, Hui Jin,
JOURNAL OF SEMICONDUCTORSno. 12 (2023)
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Uniformity of device performance improvement for the SOT-MRAM by optimizing the lithography process at 200-mm-wafer manufacturing platform
Bowen Man, Xiaowei Yang, Qingsong Zhao, Cong Zhang, Shuqin Lv,Shiyang Lu,Kaihua Cao,Hongxi Liu,Gefei Wang
2022 International Workshop on Advanced Patterning Solutions (IWAPS)pp.1-3, (2022)
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