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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.2A.2-1-2A.2-9, (2022)
M. Toledano-Luque,P. Srinivasan. P. Paliwoda, S. Cimino, Z. Chbili,M. Iqbal Mahmud,A. Gupta,T. Shen,T. Kauerauf,B. Zhu,B. Min,T. Nigam
2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM)pp.218-221, (2019)
Rinus T.P. Lee, N. Petrov, J. Kassim, M. Gribelyuk, J. Yang, L. Cao,K.B. Yeap,T. Shen,A. N. Zainuddin, A. Chandrashekar, S. Ray,E. Ramanathan,
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