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个人简介
10+ years experience in development and high volume manufacturing of nano-optics at the wafer level
Domain knowledge on lithography / etch / thin film deposition/ wet clean / inline and EOL metrology
Expert on modeling error sources in the manufacturing process; Strong statistical data analysis skills- JMP & Python
American Society for Quality Certified Six Sigma Black Belt: process / supplier quality improvement
Domain knowledge on lithography / etch / thin film deposition/ wet clean / inline and EOL metrology
Expert on modeling error sources in the manufacturing process; Strong statistical data analysis skills- JMP & Python
American Society for Quality Certified Six Sigma Black Belt: process / supplier quality improvement
研究兴趣
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合作者
合作机构
mag(2014)
引用27浏览0引用
27
0
mag(2014)
引用23浏览0引用
23
0
Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloidsno. 17 (2009): 9857-9862
V Chan,Rajesh Rengarajan,Nivo Rovedo,Wei Jin,Terence B Hook,Phuong Nguyen,Jia Chen,Edward J Nowak,Xiangdong Chen, D M Lea, Ashima B Chakravarti,Victor Ku,
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