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Timothée Choisnet, Abdelali Hammouti, Vincent Gagneur,Jérôme Reche, Guido Rademaker, Guillaume Freychet, Guillaume Jullien, Julien Ducote,Patrice Gergaud, Delphine Le Cunff
Journal of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrologyno. 01 (2024)
Api Warsono, Diana Stephany Fernandez Rodas,Jérôme Rêche, Anaïs De Lehelle D'Affroux, Sébastien Bérard-Bergery
Novel Patterning Technologies 2023 (2023)
引用0浏览0引用
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Timothee Choisnet, Abdelali Hammouti, Vincent Gagneur,Jerome Reche,Guido Rademaker,Guillaume Freychet, Guillaume Jullien, Julien Ducote,Patrice Gergaud,Delphine Le Cunff
METROLOGY, INSPECTION, AND PROCESS CONTROL XXXVII (2023)
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OPTICAL AND EUV NANOLITHOGRAPHY XXXV (2022)
METROLOGY, INSPECTION, AND PROCESS CONTROL XXXVI (2022)
Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV (2021): 647-658
Jérôme Reche,Maxime Argoud, Anaïs De Lehelle D'Affroux,Khatia Benotmane,Sebastian Haumann,Jonas Khan,Martin Eibelhuber
https://doi.org/10.1117/12.2583631 (2021): 22-28
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