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R. Bao, L. Qin, J. Frougier, S. Suk, M. Rabie, U. Bajpai, A. Chou, B. Nechay, M. Mohamed, R. Pujari, T. J Weir, K. Harmon,
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM)pp.1-4, (2023)
S. Siddiqui, R. Galatage,W. Zhao, G. Raja Muthinti, J. Fronheiser, P. Srinivasan, D.H. Triyoso, R. Sporer, H. Jagannathan, B. Haran, A. Knorr
Microelectronic Engineering (2020)
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S. Siddiqui,R. Galatage,W. Zhao,G. Raja Muthinti,J. Fronheiser,P. Srinivasan,D.H. Triyoso, R. Sporer, H. Jaganatthan, B. Haran,A. Knorr
A. Carr,B. Peethala,M. Raymond, P. Adusumilli,V. Kamineni,C. Niu, A. Arceo De La Pena,D.F. Canaperi,S. Siddiqui
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